本標(biāo)準(zhǔn)等效采用IEC 68-2-11<基本環(huán)境試驗規(guī)程? 試驗Ka:鹽霧試驗方法.
1、主題內(nèi)容與適用范圍 
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗的鹽霧試驗方法.
本標(biāo)準(zhǔn)適用于考核材料及其防護(hù)層的鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較，也可以用來考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力.
本標(biāo)準(zhǔn)不適用作為通用的腐蝕試驗方法.

2、引用標(biāo)準(zhǔn) 
GB 2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則 
GB 2422 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 名詞術(shù)語 
GB 2424.10 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則

3、對試驗設(shè)備的要求 
用于制造試驗設(shè)備的材料必須需耐鹽霧腐蝕和不影響試驗結(jié)果.
試驗設(shè)備中工作空間的條件應(yīng)該保持在本標(biāo)準(zhǔn)5章規(guī)定的限度之內(nèi).
有足夠大的容積,并能提供均勻的試驗條件,且試驗時這此條件不受試驗樣品的影響.
鹽霧不得直接噴射到試驗樣品上.
試驗設(shè)備工作空間內(nèi)部和內(nèi)壁,以及其它部位的冷凝液不得滴落在試驗樣品上.
試驗設(shè)備內(nèi)外氣壓必須平衡

4、試驗條件 
試驗設(shè)備的工作試驗室內(nèi)的溫度為35±2℃. 
在工作空間內(nèi)任一位置,用面積為80CM2的漏斗收集霧化16h的鹽霧沉降量，平均每小時收集到1.0-2.0ml的溶液。 
技術(shù)監(jiān)督局1996-11-19批準(zhǔn) 1997-07-01實施GB/T?? 2423。17-961
本標(biāo)準(zhǔn)采用連續(xù)霧化,推薦的試驗持續(xù)時間為16.? 24.? 48.? 96.? 168.? 336.? 672h。 
霧化時必須防止油污,塵埃等雜質(zhì)和噴射空氣的溫、濕度影響工作空間的試驗條件.

5、試驗溶液 
鹽溶液采用氯化鈉（化學(xué)純.分析鈍）和蒸餾水或去離子水配制,其濃度（5±0.1）%（質(zhì)量百分比.）霧化后的收集液,除擋板回部分外,不得重復(fù)使用.
霧化前的鹽液的PH值在6.5-7.2（35±2℃）之間,配制鹽溶液時,可采用化學(xué)純的衡鹽或*的溶液來調(diào)整PH值,但濃度仍須符合4.1條的規(guī)定.

6、試驗程序 
初始檢測： 
試驗前,試驗樣品必須進(jìn)行外觀檢查,如果需要可按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行其它項目的性能測定,試驗樣品表面必須干凈,無油污,無臨時性的保護(hù)層和其它弊病.
預(yù)處理： 
按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對即將試驗的試驗樣品進(jìn)行清潔,所用清潔方法不影響鹽霧對試驗樣品的作用,試驗前應(yīng)盡量避免用手直接觸摸試驗樣品表面.
條件試驗 
試驗樣品放置由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,一般按其正常使用狀態(tài)放置（包括外罩等）;平板試驗樣品需使受試面與垂直方向成30度角.
試驗樣品不得相互接觸,它們的間隔距離應(yīng)是不影響鹽霧能自由降落在試驗樣品上,以及一個試驗樣品上的鹽溶液不得滴落在其它試驗樣品上.
試驗樣品放置后按5章規(guī)定的試驗條件進(jìn)行條件試驗,試驗持續(xù)時間按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定從5.3條的規(guī)定中選取